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Cristallographie ou diffraction des rayons X
(Source : Wikipédia )

a. Principe de la diffraction des rayons X b. Notion de réseau et de système cristallin - Réseau de Bravais - Indices de Miller- Groupes d'espace c. La loi de Bragg d. Appareil utilisé en cristallographie : le diffractomètre e. Exploitation informatique des données (exemple : le logiciel Denzo)

a. Principe de la diffraction des rayons X

On mesure le plus souvent la diffraction du rayonnement électromagnétique des rayons X dont les longueurs d'onde (comprises entre 10 10- 9 m et 0,01 10- 9 m - 10 nm et 0,01 nm) sont de l'ordre des distances qui séparent les plans atomiques des réseaux cristallins.
Les rayons X

: forme de rayonnement électromagnétique à haute fréquence. L'énergie des photons varie de quelques keV et quelques centaines de keV. Les rayons X ont été découverts en 1895 par le physicien autrichien Wilhelm Röntgen (Prix Nobel 1901). Il les nomma ainsi car ils étaient d'une nature inconnue. Lorsque le cristal à étudier est irradié par un fin faisceau de rayons X, chacun des atomes du cristal réfléchit une onde de faible amplitude, qui se propage dans toutes les directions : les ondes issues des atomes interfèrent, faisant apparaître sur un film photographique qui les reçoit des taches qui correspondent au maximum des ondes en phase les autres ondes, en opposition de phase, s'annulent
Le réseau réciproque

: au niveau d'un écran situé à une distance donnée des centres diffuseurs secondaires, on observe une figure de diffraction (composée de taches). Ce cliché permet de visualiser les perturbations créées par les interférences citées ci-dessus. Le réseaux réciproque est l'image que l'on obtient à partir de la figure de diffraction.

Source : "Diffraction des rayons X"

b. Notion de réseau et de système