Whisker
Durée de vie des produits – La fiabilité des produits est elle remise en cause ?

Téléphone mobile, montres, satellites ou même centrales nucléaires aucune platine électronique n’est à l’abri d’un court circuit provoqué par un minuscule filament d’étain entre deux composants. Il s’agit d’une véritable maladie des circuits électroniques appelé « whisker » qu’on peut traduire par « moustache d’étain ».

Source : Sciences et Vie n°1117 octobre 2010

Ces problèmes ont surtout été signalés suite à des incidents sur des centrales nucléaires, des satellites de télécommunication ou des systèmes d’armement. La raison en est que le diagnostic de ce type de problème requiert des équipements dont le coût les réserve à des applications dont le prix est élevé et pour lesquels les conséquences en cas de défaillance peuvent être dramatiques. Mais ce n’est pas parce que des investigations ne sont pas réalisées dans d’autres secteurs d’activité que le problème ne les concerne pas.

L’étain qui est à l’origine de la formation de ces filaments est très utilisé en électronique et si le problème est connu depuis les années 1940 l’explication du phénomène reste encore assez mal connue. C’est après de nombreux test qu’il est apparu que l’adjonction de plomb était de nature à réduire considérablement le phénomène.

Depuis le 1er Juillet 2006 une directive européenne interdit l’usage du plomb dans les équipements électroniques ce qui remet le problème des whisker sur le devant de la scène. La taille de ces filaments qui dépasse rarement le millimètre peut atteindre un centimètre et provoquer dans les circuits intégrés de plus en plus compact des court circuits qui, s’ils ne sont systématiquement destructeur font peser sur les équipements électronique un risque réel de panne.

En cherchant à comprendre l’origine du phénomène les chercheurs ont mis en évidence qu’il s’agit probablement la présence du cuivre qui est présent dans les circuits imprimés qui serait à l’origine du