Microscopie electronique à balayage
Les propriétés mécaniques d’un matériau sont directement liées à sa constitution, c'est-à-dire à sa composition chimique, l’organisation des différentes phases présentes (taille, forme, distribution) ; autrement dit à sa microstructure. Ainsi, pour comprendre le comportement et les propriétés des matériaux, il faut avant tout décrire et quantifier la microstructure. Pour ce faire, il faut être capable de les observer.
Il existe plusieurs types d’instruments pour observer des échantillons. Ils diffèrent par leur domaine d’application qui leurs sont particuliers : il s’agit de le choisir selon le grossissement qu’il peut atteindre, ainsi que selon le type d’observation que l’on cherche à faire.
Ce compte rendu s’intéresse tout particulièrement au microscope électronique à balayage qui permet d’observer des détails de taille nanométrique, c’est l’un des appareils d’observation les plus puissant à l’heure actuelle. Mais pour que son utilisation soit fructueuse encore faut-il savoir obtenir et exploiter les informations auxquels il nous donne accès. C’est d’ailleurs tout l’objet de notre TP.
Le microscope électronique à balayage fonctionne de manière complètement différente du microscope optique et du microscope électronique à transmission. En effet cet instrument repose sur l’interaction des électrons avec la matière, ce qui permet d’ailleurs expliquer son fort pouvoir de résolution comparé aux autres appareils d’observation.
Le microscope électronique à balayage possède deux types de détecteurs : Un détecteur d’électrons rétrodiffusés et un détecteur d’électrons secondaires qui permet respectivement d’obtenir des informations sur la composition et sur la topographie des échantillons analysés.
La première partie de notre travail se consacre entièrement l’étude des électrons rétrodiffusé et aux informations qu’il peut nous apporter sur notre échantillon. L’analyse topographique des échantillons grâce aux électrons secondaires