Détails des modèles calculatoires appliqués aux retours d’expériences :
• Loi exponentielle :
Elle correspond à une variable aléatoire X représentant la durée de vie d’un phénomène nous permettant ici de modéliser la durée de vie d’un composant électronique.
On dit que X suit une loi exponentielle de paramètre lambda : • Loi de Weibull :
Utilisée dans l’analyse de durée de vie, elle utile dans la compréhension du taux de panne et nous donne la possibilité de savoir si ce taux est constant dans le temps (cause de la panne stationnaire), croissant (usure des composants au fil du temps), décroissant (défauts de ‘jeunesse’)

Expression ?

• Loi d’Arrhenius :
Elle symbolise la variation d’une température en fonction d’une température de référencet sous la forme suivante :

• MTBF (Mean Time Between Failures):
Le temps moyen entre pannes est un calcul indiquant la fiabilité d’un composant, ici les diodes ou les fusibles. Il correspond à la mesure du taux de défaillance dans un lot de composant et exclu les défauts de jeunesse. Il s’exprime ainsi :

Précisions :
• Intervalle de confiance :
Il permet d’estimer la valeur d’un paramètre avec une certitude approximative. Un intervalle de 90% signifie que nous avons une probabilité égale à 0,90 du paramètre que l’on cherche à estimer, nous quantifions de cette manière l’incertitude sur la valeur estimée. Il faut donc trouver des intervalles de confiance de taille logique et raisonnable.

• Test du χ²:
Il donne la possibilité de partir d’une possibilité supposer, de rejeter l’hypothèse si la distance entre deux ensemble de solution est jugée excessive. Il permet de valider cette hypothèse. Il s’exprime ainsi :

• Constante de Boltzmann :
Nous pouvons l’interpréter comme le facteur de proportionnalité reliant la température d’un système à son énergie thermique.
Elle a pour valeur : k≈1,38065E-23 J/K ⇔ 8,61734E-5