Microscopie à fluorescence

s’applique pour le marquage à des fins de traçabilité de pièces par exemple ou pour l’amélioration des performances tribologiques de pièces en frottement lubrifié. Le but de cette étude est de montrer la faisabilité d’une texturation de surface avec des répartitions et des formes prédéfinies et le contrôle de leur réalisation pratique. Pour pouvoir visualiser et caractériser ces striations, différentes méthodes ont été utilisées : la profilométrie tactile, la microscopie électronique à balayage et la mesure

Ground hair (underfur) Tactile hair (whiskers.) THESE ARE UNIQUES CARACTERISTICS WHICH HELP A LOT SCIENTIST IN THEIR RESEARCH!! HAIR SAMPLES: • It is impossible to perfectly link hair samples to an individual. • Class evidence !ONLY WAY IS IF IT CONTAINS DNA. FOLLICULAR TAG! MAKING A MATCH: 1.having +/- 50 hairs from the suspect 2.compare by looking at: • Color,width,length • Diameter • Medulla • Cortex

1°) Thème,sujet et disciplines concernées ainsi que la problématique Notre TPE a pour thème « Les réalisations techniques au cours des âges et leurs fondements ». Le sujet que nous avons choisi est « Le microscope ». Les matières qui sont concernés par nos travaux sont donc la physique ainsi que la SVT car nous avons travaillé sur le fonctionnement de plusieurs types de microscope ainsi que leurs intérêts pour la découverte de la cellule au cours des siècles. Ainsi nous avons choisi comme problématique

Généralités. On a procédé à faire une identification du sol en ce qui concerne ses propriétés, indices et son état initial. Ceci pour identifier, sur un profil de 5 m de profondeur, la couche la plus effondrable qui sera étudiée dans la suite. L’exploration du profil et le prélèvement des échantillons à été réalise à travers d’un puits unique à ciel ouvert à proximité de la ligne TGV Nord dans la localité de Bapaume (environ 10 m). L’excavation a été réalisée principalement à l’aide d’une pale

dans un sédiment après son dépôt mais avant le métamorphisme (Fig. 7.1). La limite diagenèsemétamorphisme est arbitraire. On peut la fixer vers 300°C, i.e., la température à laquelle toutes les argiles sont transformées en illite ou chlorite. Mis à part la compaction, complète vers 3000m d’enfouissement, le changement majeur lié à la diagenèse consiste en la réaction progressive des smectites en illites via des minéraux intermédiaires interstratifiés. La figure 7.1. montre la distribution en espèce

Accéléromètre L’accéléromètre a pour but de détecter une accélération, c’est-à-dire une modification de la vitesse. Sa toute première application à grande échelle a été dans le domaine de la sécurité automobile, pour la détection des chocs et le déclenchement d’un coussin gonflable de sécurité (airbag). L’accéléromètre trouve aussi des applications dans les appareils photos, les manettes des consoles de jeux vidéos. . . 1 Vitesse et accélération La vitesse a été définie en quatrième par la

Travail à la maison : Répondre aux questions suivantes sur un document Word ou Writer et le rendre sur PLACE avant mercredi. Questions sur les microscopes électroniques : 1/ Il y a deux types de microscopes électroniques. Rappelez leurs noms. 2/ Dans un microscope électronique, d'où provient le faisceau d'électron ? 3/ Quelles sont les conditions qui doivent régner dans un microscope électronique pour que le faisceau d'électrons voyage en ligne droite ? 4/ Y a-t-il des lentilles en verre dans

Analyse X en Microscopie Électronique à Balayage Peut-on estimer une incertitude d’analyse ? Edmond ARNAUDO ISITV / SIM incertitude de mesure - E Arnaudo 1 L’ISITV École intégrée à l’Université du Sud Toulon Var Une école d’ingénieur généraliste : Matériaux, Ingénierie marine, Télécommunication, Calcul scientifique Une « option matériaux » Conception – Caractérisation – Durabilité ISITV / SIM incertitude de mesure - E Arnaudo 2 1 Le SIM - Service Ingénierie

Microscopie électronique à balayage (MEB) Scanning Electron Microscopy (SEM) Philippe A. Buffat EPFL-CIME See also: A Guide to Scanning Microscope Observation on the JEOL WEB site: http://www.jeol.com/downloads.html L. Reimer, Scanning Electron Microscopy (Springer Verlag 1985) (also in German:Rasterelektronenmikroskopie) Scanning Electron Microscopy training 03-04 / philippe.buffat@epfl.ch / 1 Short bibliography SEM and EDS Basic: L. Reimer, Scanning Electron Microscopy, (Springer

Microscope Electronique à Balayage (MEB) I. Généralités 1) Définition • Technique de microscopie basée sur le principe des interactions électrons-matière. • Un faisceau d'électrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. • Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la surface. 2) Historique • Années 30 : Basé